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X射线荧光光谱仪
来源:华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室 发布时间:2016-02-23 阅读量:

X射线荧光光谱仪

 

一、简介

仪器型号:Zetium

生产厂家:荷兰Panalytical

ZetiumX射线荧光光谱仪主要包括以下三个功能:

1、Omnian无标定量分析软件:可以分析各种固体或粉末样品;

2、Stratos多层膜分析软件:可结合Omnian无标定量分析程序,对镀层样品进行无标样分析,并可同时得到膜厚和膜组成信息,最多可分析多达16层膜;

3、微小区域分析模块:使用X射线能量色散通道(能谱核)进行微小区域分析,每一聚焦斑点上Na-Am的所有元素可同时得到光谱信号; 

二、主要技术参数

1、X射线波长色散通道(波谱核)

测量元素范围:C、N、O-Am;

测量浓度范围:ppm-100%;

照射方式:下照射方式;

X射线光管:铑靶,超尖锐端窗陶瓷光管;

铍薄窗厚度:75u;

灯丝:无挥发非钨灯丝,强度在使用寿命内无衰减;功率:4KW;最大额定电压:60KV;最大额定电流:160mA;

高压发生器:半导体固态高压发生器;最大输出功率4KW;最大输出电压60Kv;最大输出电流160mA;

测角仪定位形式:无磨损误差的直接光学定位系统;

测角仪定位角度重现性:优于±0.0001°

探测器:流气探测器;

晶体:LiF200,LiF220,Ge111,PE002及PX1多层人工膜晶体;

脉冲高度校正:自动、动态;

2、X射线能量色散通道(能谱核)

探测器类型:高分辨硅漂移(SDD)探测器;

测量元素范围:Na-Am;

测量浓度范围:亚ppm-100%;

分辨率:≦135eV@5.9keV/1000cps;

最大计数率:1000kcps;

3、聚焦微小区域分析

Mapping 时的扫描步长:0.1mm;

CCD照相机定位;

一般分析情况下,可在小于1分钟分析一个聚焦斑点并小于10h完成600个聚焦斑点的扫描; 

三、应用范围

    X射线荧光光谱仪被广泛用于催化剂、金属、矿物、塑料、建材、石油化工、环保材料等研究领域,是对固体、粉末等样品进行各元素成分和含量测定的主要设备与分析手段。

 

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